瑞柯微炭素材料電阻率測(cè)試儀炭素材料電阻率測(cè)試儀計(jì)算公式，4.3吋液晶屏幕顯示，自動(dòng)顯示測(cè)試測(cè)試電流、電壓、溫度、電阻率等數(shù)據(jù)，選配：如配備軟件可，通過軟件操控儀...

四探針電阻率方阻測(cè)試儀、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口...

四探針涂層電阻率測(cè)試儀，配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單...

四探針涂層電阻測(cè)試儀，采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...

四探針薄膜電阻率測(cè)試儀，半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過四探針法來測(cè)試，四探針測(cè)試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測(cè)試儀測(cè)到-6次方；高阻四探針測(cè)試儀測(cè)到7次方...

四探針薄膜電阻測(cè)試儀，手持式外型結(jié)構(gòu)適用于車間生產(chǎn)、品管抽檢，外出、攜帶測(cè)量等要求測(cè)量的場(chǎng)所；也適用于中小型半導(dǎo)體材料生產(chǎn)企業(yè).

四探針膜層電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1...

四探針膜電阻測(cè)試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電（屏蔽）布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、電阻測(cè)試

智能型方阻測(cè)試儀大顯示屏，直觀度數(shù)，穩(wěn)定性好，可以外接其他控制單元，與其他系統(tǒng)集成使用。適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜；導(dǎo)電（...

導(dǎo)電布方塊電阻測(cè)試儀，參照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測(cè)定方法》.GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針法》.GB/T155...

導(dǎo)電性薄膜方阻測(cè)試儀測(cè)定方法，按標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率...

四探針方塊電阻測(cè)試儀怎么用，軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度

涂層四探針電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，參照 GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針法》并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及US...

ITO導(dǎo)電箔膜四探針方阻測(cè)試儀操作步驟， 改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針測(cè)試方法更...

高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)數(shù)據(jù)管理，高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng) 生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量。用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對(duì)導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺...

導(dǎo)電性陶瓷方塊電阻測(cè)試儀現(xiàn)貨，按照硅片電阻率測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、并...

太陽能電池雙電四探針測(cè)試儀批發(fā)，雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。

硅晶塊方阻電阻率測(cè)試儀廠家，本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器...

涂層雙電測(cè)電四探針方阻電阻率測(cè)試儀，該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)...

導(dǎo)電性纖維四探針測(cè)試儀價(jià)格，本機(jī)采用范德堡測(cè)量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響及誤差，比市場(chǎng)上其他普通的四探針...